激光测头：

1.最新推出的 HP-L-5.8 激光扫描测头使得在三坐标测量系统上创建点云数据变得更加简单、经济和高效。HP-L-5.8 的固定蓝色激光线广泛适用于多种表面测量，即使高亮或高暗表面也可精准检测。测头灵敏度设置允许手动选择或自适应计算，以提供精确测量结果。坚固紧凑的结构设计为 HP-L-5.8 的测量提供更多可能，即使在狭小的测量空间内也能轻松实现自动旋转测量。

技术特点：

• 多达5种激光灵敏度，可根据不同工件表面，可自动调整至最佳功率

• 使用简便，无需进行繁琐的软硬件设置，完成测头校验即可使用

• 全新结构设计，防护性能更优，更小的外形尺寸，适应测量空间有限制的应用

• 采点效率高，单秒最大采点率达36000点/秒

• 大景深设置，利于高低不等的表面检测

2.HP-L-10.6系统基于非接触线激光扫描技术，相对于传统接触式或者点激光式扫描系统，大大提高了数据采集速度。获有“飞点扫描”技术保证高精度的完整点云，对电脑配置无过高要求。使用简便，

无需进行繁琐的软硬件设置。3种线宽、线密度工作方式可选，可针对现场实际情况进行选择。精度高；对于外部环境光要求低；对于高亮、高暗表面物体（如机械加工、抛光的表面），无需特殊处理或喷粉即可完成测量任务;

影像测头:

1.HP-C-VE测头是用于CMM系统的光学影像测量系统。2D光感CCD整合发光二极管实现一定视图区域内的工件测量，同时软件的光强调整完善了测量区域的照明条件。在每一个视图区域可以同时选择一个或多个测量对象（如孔径，边界等）。拥有HP-C-VE系统可以同时实现多传感器组合完成工件测量，并可支持多种测头更换架，完成影像系统到触测扫描系统的转换。

光学测头：

1.HP-OW光学测头：应用白光共聚焦技术，可针对各种表面工件进行高精度的非接触测量。

HP-OW测量范围为几毫米，同时实现纳米级的分辨率。±30°的大测量角度，使其适用于更多应用，从微小特征到大面积测量。通过应用HR-R自动更换架，可实现与其它不同测头的自动更换。

HP-OW测头有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61两种型号，可根据测量应用选择不同的测量范围、工作距离等。

2.Precitec LR 是超高精度共焦传感器。不仅可以精密测量各种复杂、敏感、各种材料的工件表面要素，还可以对各种材料的高反射表面，抛光表面，易损伤表面以及暗表面测量。拥有当前市场上最高的纳米级分辨率。可实现在同一程序中与各种测头的自动更换。

3.HP-O：HP-O是用于单点或扫描模式下光学测量的固定测头解决方案。它使用的LSP-S2O测头可以与接触式测头使用标准测头更换架互换。它是旋转对称部件与易于测量的标准几何形状的理想选择。

HP-O Hybrid 将光学测针和接触式测针结合在同一配置中，HP-O Hybrid允许设置多达5根测针，最多包括4根光学测针。它可以在不更换测头的情况下实现测量技术之间的即时切换，使其成为高效和高精度关键测量的理想选择。

HP-O Flex：HP-O Flex使用HH-AS-OT2.5分度测头使用户能够在12240个不同的测头位置加载光学测针，使其成为需要高度可达性的复杂几何部件检测的理想选择。也可以使用标准测针更换架与接触式测针互换。

HP-O Adjudtable：HP-O Adjudtable是一个带有三轴接口的固定式传感器，可以在测量空间内完成测量角度的无极调整，以适应更复杂的测量任务。例如：无轴向平行特征的旋转对称零件。

HP-O Multi：HP-O Multi是一种多光路固定式光学测量方案，携带多达6种不同测针，校准后的测针可以采集接触式测针难以触及的特征。

HP-O Flex 90：HP-O Flex 90将光学测头的分度头以90度的角度安装，使光学测头可绕分度头的B轴旋转。它是测量需要水平找正的零件（如叶盘）的理想选择。